发明名称 貼り合わせSOIウェーハの製造方法
摘要 【課題】 SOIウェーハ製造工程の熱処理工程やデバイス製造工程の熱処理工程を通っても単結晶化が進まないように多結晶シリコン層を堆積することができるとともに、多結晶シリコン層堆積工程のスループットを向上させることができるSOIウェーハの製造方法を提供する。【解決手段】 ベースウェーハに多結晶シリコン層を堆積する工程と、ボンドウェーハに絶縁膜を形成する工程と、絶縁膜を介して多結晶シリコン層の研磨面とボンドウェーハを貼り合わせる工程と、ボンドウェーハを薄膜化する工程とを有し、ベースウェーハとして100Ω・cm以上のシリコン単結晶ウェーハを用い、多結晶シリコン層を堆積する工程は、ベースウェーハの多結晶シリコン層を堆積する表面に予め酸化膜を10nm以上、30nm以下の厚さで形成する段階をさらに含み、多結晶シリコン層の堆積を1050℃以上、1200℃以下の温度で行う貼り合わせSOIウェーハの製造方法。【選択図】 図1
申请公布号 JP2017005078(A) 申请公布日期 2017.01.05
申请号 JP20150116675 申请日期 2015.06.09
申请人 信越半導体株式会社;長野電子工業株式会社 发明人 小林 徳弘;石川 修;目黒 賢二;若林 大士;大西 裕之
分类号 H01L21/02;H01L27/12 主分类号 H01L21/02
代理机构 代理人
主权项
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