发明名称 |
Method for detecting the position of single crystal sapphire crystallization front and detection device |
摘要 |
Spôsob detekcie polohy kryštalizačného frontu monokryštálov zafíru je založený na tom, že poloha kryštalizačného frontu monokryštálu zafíru sa deteguje meraním času odrazu vyslaného laserového impulzu cez molybdénovú trubicu (6) od kryštalického frontu monokryštálu zafíru na rozhraní tavenina - kryštál v horizontálnej rovine na úrovni zárodku monokryštálu. |
申请公布号 |
SK50432016(U1) |
申请公布日期 |
2017.01.03 |
申请号 |
SK20160005043U |
申请日期 |
2016.07.13 |
申请人 |
CEIT MATERIALS ENGINEERING, S.R.O. |
发明人 |
HOC MICHAL;KAJAN JURAJ;TARJANYI NORBERT;MEDVEDCKY STEFAN;MIKITA MIROSLAV |
分类号 |
C30B15/26;C30B17/00;C30B29/20 |
主分类号 |
C30B15/26 |
代理机构 |
|
代理人 |
|
主权项 |
|
地址 |
|