| 发明名称 | 一种用于X射线衍射测定的样品架 | ||
| 摘要 | 本实用新型提供了一种用于X射线衍射测定的样品架，所述样品架放置于恒湿器内，所述样品架为一长方体，其上部开设有一盛放样品的样品槽，所述样品槽为圆形凹槽，所述圆形凹槽直径为2cm～3cm，所述圆形凹槽的槽深为0.1mm～0.5mm。所述样品槽填满分子筛样品，经恒湿吸水，所述样品架可直接用于X射线衍射测定。 | ||
| 申请公布号 | CN205749350U | 申请公布日期 | 2016.11.30 |
| 申请号 | CN201620427100.7 | 申请日期 | 2016.05.11 |
| 申请人 | 中国石油天然气股份有限公司 | 发明人 | 王磊;李瑞峰;代跃利 |
| 分类号 | G01N23/20(2006.01)I;G01N1/28(2006.01)I | 主分类号 | G01N23/20(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人 | 梁挥;李岩 |
| 主权项 | 一种用于X射线衍射测定的样品架，所述样品架放置于恒湿器内，其特征在于，所述样品架为一长方体，其上部开设有一盛放样品的样品槽，所述样品槽为圆形凹槽，所述圆形凹槽直径为2cm～3cm，所述圆形凹槽的槽深为0.1mm～0.5mm。 | ||
| 地址 | 100007 北京市东城区东直门北大街9号中国石油大厦 | ||