发明名称 METAL GATE SCHEME FOR DEVICE AND METHODS OF FORMING
摘要 게이트 구조물 및 게이트 구조물의 형성 방법이 기재된다. 일부 실시예에서, 방법은, 기판에 소스/드레인 영역들을 형성하는 단계, 및 소스/드레인 영역들 사이에 게이트 구조물을 형성하는 단계를 포함한다. 게이트 구조물은, 기판 위의 게이트 유전체 층, 게이트 유전체 층 위의 일함수 조정 층, 일함수 조정 층 위의 제1 금속, 제1 금속 위의 접착 층, 및 접착 층 위의 제2 금속을 포함한다. 일부 실시예에서, 접착 층은 제1 금속과 제2 금속의 합금을 포함할 수 있고, 제1 및 제2 금속을 어닐링함으로써 형성될 수 있다. 다른 실시예에서, 접착 층은, 제1 및/또는 제2 금속 중의 적어도 하나의 산화물을 포함할 수 있고, 제1 금속을 산소 함유 플라즈마 또는 자연 환경에 노출시킴으로써 적어도 부분적으로 형성될 수 있다.
申请公布号 KR20160129664(A) 申请公布日期 2016.11.09
申请号 KR20150111727 申请日期 2015.08.07
申请人 TAIWAN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING CO., LTD. 发明人 JANGJIAN SHIU KO;LIU CHI WEN;WU CHIH NAN;LIN CHUN CHE
分类号 H01L21/8238;H01L21/8228;H01L21/8234;H01L29/08 主分类号 H01L21/8238
代理机构 代理人
主权项
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