磁盘用玻璃基板、磁盘

摘要

本发明的磁盘用玻璃基板的特征在于，在以大概10nm的间隔取得了主表面的斜率的样本的情况下，斜率的平方的平均值在0.0025以下、且斜率的平方的值在0.004以上的频次在15％以下。

主权项

一种磁盘用玻璃基板，其特征在于，在根据使用原子力显微镜对磁盘用玻璃基板的主表面上的1μm×1μm的测定区域进行测定得到的、对于垂直的2个方向x、y各自的9.76nm间隔的高度Z，算出了斜率的平方的平均值和斜率的平方的值的情况下，【式1】【式2】所述斜率的平方的平均值在0.0025以下、且所述斜率的平方的值在0.004以上的频次在15％以下，其中，A为测定区域的面积，所述斜率的平方的平均值是对由式(1)算出的方均根斜率Sdq进行平方而得到的值，所述斜率的平方的值是对由式(2)算出的斜率dq进行平方而得到的值，所述斜率是指，在采用了主表面上的规定的微小间隔的2点的情况下，将该2点中的高度的变化量除以微小间隔的长度而得到的值。