| 发明名称 | 测试电子装置的功能的测试方法以及测试装置 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种测试方法，用以测试一电子装置中的一功能，包含：(a)寻找相对应欲测试该功能的一位置；(b)根据该位置传送一指令来执行该功能；以及(c)根据该功能对于该指令的回应来判断该功能是否有误。 | ||
| 申请公布号 | CN103167076B | 申请公布日期 | 2016.09.14 |
| 申请号 | CN201110409085.5 | 申请日期 | 2011.12.09 |
| 申请人 | 晨星软件研发（深圳）有限公司;晨星半导体股份有限公司 | 发明人 | 林益丞;林圣斌;谢其璋;高伟峻 |
| 分类号 | H04M1/24(2006.01)I | 主分类号 | H04M1/24(2006.01)I |
| 代理机构 | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人 | 陈亮 |
| 主权项 | 一种测试方法，用以测试一电子装置中一软件所包含的一功能，该软件将该功能相关于一使用者介面的一图符，该测试方法包含：(a)寻找所欲测试该功能于该软件的一位置；(b)根据该位置传送一指令来执行该功能；以及(c)根据该功能对于该指令的回应来判断该功能是否有误；其中，该指令包含对应于一使用者于该使用者介面移至该图符的一子指令，其中，该步骤(a)包含：(a1)根据该电子装置中对应于该功能的储存装置是否利用可延伸标记式语言编写判断该功能是否对应于一动态指令，以产生一判断结果；(a2)若该判断结果为是，自该电子装置取得该使用者介面中所有功能的索引资讯，并根据该索引资讯取得该功能的该位置；(a3)若该判断结果为否，根据待测软件取得该功能的该位置。 | ||
| 地址 | 518057 广东省深圳市高新区南区科技南十路深圳航天科技创新研究院C座4楼 | ||