发明名称 |
N型动态阈值晶体管、制备方法及提高工作电压的方法 |
摘要 |
本发明提供一种N型动态阈值晶体管、制备方法及提高工作电压的方法,该N型动态阈值晶体管至少包括:衬底结构,位于所述衬底结构上的n个阈值可调结构;所述阈值可调结构至少包含两个NMOS管和两个二极管,两个NMOS管共用体区,所述体区为N型重掺杂区;两个二极管共用N区,并以两个NMOS管共用的体区作为N区;所述第一二极管的N区与所述第一NMOS管的栅连接,所述第二二极管的N区与所述第二NMOS管的栅连接。本发明通过在两个NMOS管的栅体连接通路上各形成一个反偏PN结,来提升体区电压、降低阈值电压、提高驱动电流,实现工作电压的提高,扩展了N型动态阈值晶体管在低功耗电路设计领域的应用价值。 |
申请公布号 |
CN105895703A |
申请公布日期 |
2016.08.24 |
申请号 |
CN201610237275.6 |
申请日期 |
2016.04.15 |
申请人 |
中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
发明人 |
陈静;吕凯;罗杰馨;柴展;何伟伟;黄建强;王曦 |
分类号 |
H01L29/78(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I |
主分类号 |
H01L29/78(2006.01)I |
代理机构 |
上海光华专利事务所 31219 |
代理人 |
姚艳 |
主权项 |
一种N型动态阈值晶体管,其特征在于,所述N型动态阈值晶体管至少包括:衬底结构,位于所述衬底结构上的n个阈值可调结构,其中,n为大于等于1的自然数;所述阈值可调结构至少包含两个NMOS管和两个二极管,其中,第一NMOS管和第二NMOS管的沟道区均为P型本征区,且两个NMOS管共用体区,所述体区为N型重掺杂区;第一二极管以所述第一NMOS管的沟道区作为P区,第二二极管以所述第二NMOS管的沟道区作为P区,且两个二极管共用N区,并以两个NMOS管共用的体区作为N区;所述第一二极管的P区与所述第一NMOS管的体区连接,所述第一二极管的N区与所述第一NMOS管的栅连接,所述第二二极管的P区与所述第二NMOS管的体区连接,所述第二二极管的N区与所述第二NMOS管的栅连接。 |
地址 |
200050 上海市长宁区长宁路865号 |