发明名称 N型动态阈值晶体管、制备方法及提高工作电压的方法
摘要 本发明提供一种N型动态阈值晶体管、制备方法及提高工作电压的方法,该N型动态阈值晶体管至少包括:衬底结构,位于所述衬底结构上的n个阈值可调结构;所述阈值可调结构至少包含两个NMOS管和两个二极管,两个NMOS管共用体区,所述体区为N型重掺杂区;两个二极管共用N区,并以两个NMOS管共用的体区作为N区;所述第一二极管的N区与所述第一NMOS管的栅连接,所述第二二极管的N区与所述第二NMOS管的栅连接。本发明通过在两个NMOS管的栅体连接通路上各形成一个反偏PN结,来提升体区电压、降低阈值电压、提高驱动电流,实现工作电压的提高,扩展了N型动态阈值晶体管在低功耗电路设计领域的应用价值。
申请公布号 CN105895703A 申请公布日期 2016.08.24
申请号 CN201610237275.6 申请日期 2016.04.15
申请人 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 发明人 陈静;吕凯;罗杰馨;柴展;何伟伟;黄建强;王曦
分类号 H01L29/78(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I 主分类号 H01L29/78(2006.01)I
代理机构 上海光华专利事务所 31219 代理人 姚艳
主权项 一种N型动态阈值晶体管,其特征在于,所述N型动态阈值晶体管至少包括:衬底结构,位于所述衬底结构上的n个阈值可调结构,其中,n为大于等于1的自然数;所述阈值可调结构至少包含两个NMOS管和两个二极管,其中,第一NMOS管和第二NMOS管的沟道区均为P型本征区,且两个NMOS管共用体区,所述体区为N型重掺杂区;第一二极管以所述第一NMOS管的沟道区作为P区,第二二极管以所述第二NMOS管的沟道区作为P区,且两个二极管共用N区,并以两个NMOS管共用的体区作为N区;所述第一二极管的P区与所述第一NMOS管的体区连接,所述第一二极管的N区与所述第一NMOS管的栅连接,所述第二二极管的P区与所述第二NMOS管的体区连接,所述第二二极管的N区与所述第二NMOS管的栅连接。
地址 200050 上海市长宁区长宁路865号