发明名称 一种降低材料应力影响的MEMS封装结构
摘要 本实用新型公开了一种降低材料应力影响的MEMS封装结构,包括基板、垫片和MEMS传感器,所述MEMS传感器设于垫片上,所述垫片设于基板上,所述基板设有通孔,所述垫片与MEMS传感器相交处四角位置外侧均刻有滴胶槽,内侧均设有固晶点,所述滴胶槽通过导胶槽与固晶点连接,所述垫片设有中心孔且向外刻有多层环形凹槽,本实用新型降低封装材料热应力对MEMS传感器的影响,提高MEMS传感器整体精度,同时降低封装成本。
申请公布号 CN205442632U 申请公布日期 2016.08.10
申请号 CN201620298828.4 申请日期 2016.04.12
申请人 扩达电子(上海)有限公司 发明人 李秉纬
分类号 B81B7/00(2006.01)I 主分类号 B81B7/00(2006.01)I
代理机构 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 代理人 王新生
主权项 一种降低材料应力影响的MEMS封装结构,其特征在于:包括基板、垫片和MEMS传感器,所述MEMS传感器设于垫片上,所述垫片设于基板上,所述基板中央设有通孔,所述垫片与MEMS传感器相交处四角位置外侧均刻有滴胶槽,内侧均设有固晶点,所述滴胶槽通过导胶槽与固晶点连接,所述垫片中央设有中心孔且向外刻有多层环形凹槽,所述滴胶槽内滴有胶水,所述多层环形凹槽内设有密封胶。
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