发明名称 |
一种降低材料应力影响的MEMS封装结构 |
摘要 |
本实用新型公开了一种降低材料应力影响的MEMS封装结构,包括基板、垫片和MEMS传感器,所述MEMS传感器设于垫片上,所述垫片设于基板上,所述基板设有通孔,所述垫片与MEMS传感器相交处四角位置外侧均刻有滴胶槽,内侧均设有固晶点,所述滴胶槽通过导胶槽与固晶点连接,所述垫片设有中心孔且向外刻有多层环形凹槽,本实用新型降低封装材料热应力对MEMS传感器的影响,提高MEMS传感器整体精度,同时降低封装成本。 |
申请公布号 |
CN205442632U |
申请公布日期 |
2016.08.10 |
申请号 |
CN201620298828.4 |
申请日期 |
2016.04.12 |
申请人 |
扩达电子(上海)有限公司 |
发明人 |
李秉纬 |
分类号 |
B81B7/00(2006.01)I |
主分类号 |
B81B7/00(2006.01)I |
代理机构 |
北京轻创知识产权代理有限公司 11212 |
代理人 |
王新生 |
主权项 |
一种降低材料应力影响的MEMS封装结构,其特征在于:包括基板、垫片和MEMS传感器,所述MEMS传感器设于垫片上,所述垫片设于基板上,所述基板中央设有通孔,所述垫片与MEMS传感器相交处四角位置外侧均刻有滴胶槽,内侧均设有固晶点,所述滴胶槽通过导胶槽与固晶点连接,所述垫片中央设有中心孔且向外刻有多层环形凹槽,所述滴胶槽内滴有胶水,所述多层环形凹槽内设有密封胶。 |
地址 |
201803 上海市嘉定区金园一路766号A栋205室 |