发明名称 |
一种基于原子层沉积技术的氮化钽薄膜的制作工艺 |
摘要 |
本发明提供一种基于原子层沉积技术的氮化钽薄膜的制作工艺,包括步骤:步骤1),对基底表面进行NH<sub>3</sub>等离子体处理;步骤2),于所述基底表面形成金属钽前驱体;步骤3),对形成有金属钽前驱体的基底表面进行NH<sub>3</sub>等离子体处理形成氮化钽薄层;步骤4),对所述氮化钽薄层进行Ar等离子体处理;步骤5),以第一次数循环进行步骤1)~步骤4);步骤6),将所述基底旋转预设角度;步骤7),以第二次数循环进行步骤1)~步骤4)。本发明通过增加NH<sub>3</sub>等离子体处理基底、Ar等离子体处理氮化钽薄层及将旋转基底的步骤,可以有效地减少氮化钽薄膜中的孔洞,获得性能良好的氮化钽薄膜。本发明工艺步骤简单,适用于工业生产。 |
申请公布号 |
CN104109844B |
申请公布日期 |
2016.07.06 |
申请号 |
CN201310138674.3 |
申请日期 |
2013.04.18 |
申请人 |
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
发明人 |
周鸣 |
分类号 |
C23C16/34(2006.01)I;C23C16/44(2006.01)I |
主分类号 |
C23C16/34(2006.01)I |
代理机构 |
上海光华专利事务所 31219 |
代理人 |
余明伟 |
主权项 |
一种基于原子层沉积技术的氮化钽薄膜的制作工艺,其特征在于,至少包括以下步骤:步骤1),对基底表面进行NH<sub>3</sub>等离子体处理;步骤2),于所述基底表面形成金属钽前驱体;步骤3),对形成有金属钽前驱体的基底表面进行NH<sub>3</sub>等离子体处理形成氮化钽薄层;步骤4),对所述氮化钽薄层进行Ar等离子体处理;步骤5),以第一次数循环进行步骤1)~步骤4);步骤6),将所述基底旋转预设角度;步骤7),以第二次数循环进行步骤1)~步骤4),形成氮化钽薄膜。 |
地址 |
201203 上海市浦东新区张江路18号 |