发明名称 チップ電子部品の検査選別装置
摘要 【課題】チップ電子部品収容容器への不適合チップ電子部品の混入を防止することができ、そしてチップ電子部品収容容器の取り出しも容易なチップ電子部品の検査選別装置を提供すること。【解決手段】チップ電子部品保持板24が備える多数の透孔23に収容されたチップ電子部品の電気特性を検査選別して上面が開口した少なくとも二個のチップ電子部品収容容器34に収容する装置であって、上記保持板24の透孔23から排出されたチップ電子部品の排出通路37に接続するチップ電子部品排出通路支持構造体39aに、排出通路37を介して容器34に送り込まれる加圧気体の少なくとも一部を逃がす加圧気体逃がし通路41が備えられていること、そして容器34が、この容器34の開口面33と支持構造体39aの下側表面43aとの間隔の調節を可能にする昇降手段42により支持されているチップ電子部品の検査選別装置。
申请公布号 JPWO2014010720(A1) 申请公布日期 2016.06.23
申请号 JP20140524888 申请日期 2013.07.12
申请人 株式会社ヒューモラボラトリー 发明人 林 央人
分类号 G01R31/00 主分类号 G01R31/00
代理机构 代理人
主权项
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