| 发明名称 | 基于光栅刻划刀具压刃模式的软铝膜显微硬度测试方法 | ||
| 摘要 | 本发明提出的基于光栅刻划刀具压刃模式的软铝膜显微硬度测试方法，包括步骤：通过铰链刀架，配重块、劈型光栅刻划刀具及显微镜等装置，利用光栅刻划机的自动压刃程序，在光栅软铝膜上在不同载荷下进行压刃，并测量压刃长度；通过所建立的计算硬度公式进行软铝膜的硬度计算，给出光栅软铝膜硬度数据。本发明解决了现有光栅软铝膜测试方法的复杂、繁琐过程及测试方法与刻划手段的不一致性的技术问题，提高了光栅刻划效率，减低了光栅刻划成本，填补了国内外基于压刃试验的软铝膜显微硬度测试方法的空白。 | ||
| 申请公布号 | CN105699230A | 申请公布日期 | 2016.06.22 |
| 申请号 | CN201610051128.X | 申请日期 | 2016.01.26 |
| 申请人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明人 | 吉日嘎兰图;唐玉国;巴音贺希格;齐向东;李晓天;糜小涛 |
| 分类号 | G01N3/42(2006.01)I | 主分类号 | G01N3/42(2006.01)I |
| 代理机构 | 长春菁华专利商标代理事务所 22210 | 代理人 | 张伟 |
| 主权项 | 一种基于光栅刻划刀具压刃模式的软铝膜显微硬度测试方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1：在光栅软铝膜上在不同载荷下进行压刃，测量每个载荷P对应的压刃长度l，计算出的P/l比值；步骤2：根据努氏显微硬度测试原理，获得硬度常数C；步骤3：根据硬度常数C得到软铝膜显微硬度H<sub>G</sub>：<maths num="0001" id="cmaths0001"><math><![CDATA[<mrow><msub><mi>H</mi><mi>G</mi></msub><mo>=</mo><mi>C</mi><mfrac><mi>P</mi><msup><mi>l</mi><mn>2</mn></msup></mfrac><mo>=</mo><mn>31</mn><mfrac><mi>P</mi><msup><mi>l</mi><mn>2</mn></msup></mfrac><mo>.</mo></mrow>]]></math><img file="FDA0000914365920000011.GIF" wi="502" he="147" /></maths> | ||
| 地址 | 130033 吉林省长春市东南湖大路3888号 | ||