一种检测触头参数的基座及其制造方法、检测方法

摘要

一种检测触头参数的基座及其制造方法、检测方法，其中所述基座（1）用于断路器或接触器，所述基座（1）的内部设置有用于检测所述动触头（2）触头参数的标记,所述标记根据所述动触头（2）触头参数的理论值设置。本发明的检测触头参数的基座及其制造方法、检测方法，省时省力、误差小、检测精确度高且成本低。

主权项

一种采用检测触头参数的基座对动触头进行触头参数测量的检测方法，所述检测触头参数的基座的内部设置有用于检测动触头(2)触头参数的标记；所述标记包括开距参考系和/或超程参考系；所述开距参考系包括开距理论标记(4)；所述超程参考系包括超程理论标记(7)；或者所述开距参考系包括开距上标记(5)和/或开距下标记(6)、及开距理论标记(4)；所述超程参考系包括超程上标记(8)和/或超程下标记(9)、及超程理论标记(7)；或者所述开距参考系包括开距上标记(5)和开距下标记(6)；所述超程参考系包括超程上标记(8)和超程下标记(9)；其特征在于：包括，①当所述标记为开距理论标记(4)和超程理论标记(7)时，则在脱扣状态时，观察各相动触头(2)上的观测物与所述开距理论标记(4)的相对位置，若每相所述观测物向所述开距理论标记(4)方向的投影均有部分落在所述开距理论标记(4)上，则产品开距合格，否则不合格；在合闸状态时，观查各相所述观测物与所述超程理论标记(7)的相对位置，若每相所述观测物向所述超程理论标记(7)方向的投影均有部分落在所述超程理论标记(7)上，则该产品超程合格，否则不合格；如果开距和超程均合格且每相的超程值与所述超程理论标记(7)相比均不超过0.5毫米，则产品同步合格，否则不合格；②当所述标记为开距上标记(5)、开距下标记(6)、超程上标记(8)和超程下标记(9)时，或者所述标记为开距理论标记(4)、开距上标记(5)、开距下标记(6)、超程理论标记(7)、超程上标记(8)和超程下标记(9)时，则在脱扣状态时，观察各相所述观测物与所述标记的相对位置，若每相所述观测物均位于所述开距上标记(5)和所述开距下标记(6)之间，或者每相所述观测物向所述开距上标记(5)或所述开距下标记(6)方向的投影均有部分落在所述开距上标记(5)或所述开距下标记(6)上，则该产品开距合格，否则不合格；在合闸状态时，观察各相所述观测物与所述标记的相对位置，若每相所述观测物均位于所述超程上标记(8)和所述超程下标记(9)之间，或者每相所述观测物向所述超程上标记(8)或所述超程下标记(9)方向的投影均有部分落在所述超程上标记(8)或所述超程下标记(9)上，则该产品超程合格，否则不合格；如果开距和超程均合格且每相的超程值与所述超程理论标记(7)相比均不超过0.5毫米，则产品同步合格，否则不合格；③当所述标记为超程理论标记(7)和超程上标记(8)时，则在合闸状态时，观测各相所述观测物与所述标记的相对位置，若每相所述观测物均位于所述超程理论标记(7)和所述超程上标记(8)之间，或者每相所述观测物向所述超程理论标记(7)或所述超程上标记(8)方向的投影均有部分落在所述超程理论标记(7)或所述超程上标记(8)上，则该产品超程合格，否则不合格；④当所述标记为开距理论标记(4)、开距上标记(5)、超程理论标记(7)和超程上标记(8)时，则在脱扣状态时，观测各相所述观测物与所述标记的相对位置，若每相所述观测物均位于所述开距理论标记(4)和所述开距上标记(5)之间，或者每相所述观测物向所述开距理论标记(4)或所述开距上标记(5)方向的投影均有部分落在所述开距理论标记(4)或所述开距上标记(5)上，则该产品开距合格，否则不合格；在合闸状态时，观测各相所述观测物与所述标记的相对位置，若每相所述观测物均位于所述超程理论标记(7)和所述超程上标记(8)之间，或者每相所述观测物向所述超程理论标记(7)或所述超程上标记(8)方向的投影均有部分落在所述超程理论标记(7)或所述超程上标记(8)上，则该产品超程合格，否则不合格；如果开距和超程均合格且每相的超程值与所述超程理论标记(7)相比均不超过0.5毫米，则产品同步合格，否则不合格；⑤当所述标记为开距理论标记(4)、开距下标记(6)、超程理论标记(7)和超程下标记(9)时，则在脱扣状态时，观测各相所述观测物与所述标记的相对位置，若每相所述观测物均位于所述开距理论标记(4)和所述开距下标记(6)之间，或者每相所述观测物向所述开距理论标记(4)或所述开距下标记(6)方向的投影均有部分落在所述开距理论标记(4)或所述开距下标记(6)上，则该产品开距合格，否则不合格；在合闸状态时，观测各相所述观测物与所述标记的相对位置，若每相所述观测物均位于所述超程理论标记(7)和所述超程下标记(9)之间，或者每相所述观测物向所述超程理论标记(7)或所述超程下标记(9)方向的投影均有部分落在所述超程理论标记(7)或所述超程下标记(9)上，则该产品超程合格，否则不合格；如果开距和超程均合格且每相的超程值与所述超程理论标记(7)相比均不超过0.5毫米，则产品同步合格，否则不合格。