发明名称 |
带有防阻塞功能的分子检测纳米孔器件及其制作方法 |
摘要 |
一种带有防阻塞功能的分子检测纳米孔器件及其制作方法,首先在硅衬底上形成测序用纳米孔阵,再在测序用纳米孔阵的上方形成氮化硅防阻塞孔阵。形成氮化硅防阻塞孔阵的方法包括以下步骤:在形成有测序用纳米孔阵的器件上方双面沉积牺牲层;刻蚀牺牲层形成下一步低应力氮化硅的附着区;在低应力氮化硅附着区上双面沉积LPCVD氮化硅层;刻蚀氮化硅层形成防阻塞孔;最后通过KOH或其他碱腐蚀去除体硅和牺牲层硅。本发明在测序用纳米孔阵的上方制作了防阻塞孔阵,因此在用于分子检测、基因测序时,可防止大于DNA直径的外来颗粒堵塞纳米孔阵,保证分子检测、基因测序的正常进行。由于本发明通过半导体集成方法制作,所以成本低、效果好。 |
申请公布号 |
CN103569945B |
申请公布日期 |
2016.05.18 |
申请号 |
CN201210258806.1 |
申请日期 |
2012.07.24 |
申请人 |
中国科学院微电子研究所 |
发明人 |
董立军;赵超 |
分类号 |
B81C1/00(2006.01)I;B81B7/04(2006.01)I |
主分类号 |
B81C1/00(2006.01)I |
代理机构 |
北京蓝智辉煌知识产权代理事务所(普通合伙) 11345 |
代理人 |
陈红 |
主权项 |
一种带有防阻塞功能的分子检测纳米孔器件的制作方法,所述器件用于DNA测序或者分子筛选测试,其特征是:所述制作方法首先在硅衬底上形成测序用纳米孔阵,然后在所述测序用纳米孔阵的上方,再通过以下方法形成防阻塞孔阵,用于防止外来颗粒阻塞所述测序用纳米孔阵:在形成有所述测序用纳米孔阵的器件表面双面沉积牺牲层;在所述器件的正面单面刻蚀所述牺牲层,形成下一步低应力氮化硅附着区;在所述器件上双面沉积LPCVD氮化硅层;单面刻蚀所述氮化硅层,形成防阻塞孔;最后通过碱腐蚀去除体硅和所述牺牲层,形成氮化硅防阻塞孔阵。 |
地址 |
100029 北京市朝阳区北土城西路3# |