发明名称 光学检测器与其检测方法
摘要 光学检测器包含纱线导引装置、反射镜组、第一光源、第一光学模组、第二光源、第二光学模组以及控制器。纱线导引装置用以导引纱线。反射镜组包含第一反射镜与第二反射镜,分别用以反射光线至纱线。第一光源用以提供第一光线投射至第一反射镜,第一光线经第一反射镜反射后,沿第一方向通过纱线。第二光源用以提供第二光线投射至第二反射镜,第二光线经第二反射镜反射后,沿第二方向通过纱线。控制器连接于第一光学模组与第二光学模组,用以判断纱线是否有瑕疵。
申请公布号 TWI532987 申请公布日期 2016.05.11
申请号 TW103123978 申请日期 2014.07.11
申请人 财团法人纺织产业综合研究所 发明人 陈一元;张正东;沈乾龙
分类号 G01N21/89(2006.01);G01N33/36(2006.01) 主分类号 G01N21/89(2006.01)
代理机构 代理人 蔡坤财;李世章
主权项 一种光学检测器,包含:一纱线导引装置,用以导引至少一纱线;一反射镜组,包含一第一反射镜与一第二反射镜,分别用以反射光源至该至少一纱线;一第一光源,用以提供一第一光线投射至该第一反射镜,该第一光线经该第一反射镜反射后,沿一第一方向通过该至少一纱线;一第一光学模组,具有一第一光感测器,用以接收经该第一方向通过该至少一纱线之该第一光线,并转为一第一光线之类比讯号;一第二光源,用以提供一第二光线投射至该第二反射镜,该第二光线经该第二反射镜反射后,沿一第二方向通过该至少一纱线;一第二光学模组,具有一第二光感测器,用以接收经该第二方向通过该至少一纱线之该第二光线,并转为一第二光线之类比讯号;一控制器,连接于该第一光学模组与该第二光学模组,用以判断该至少一纱线是否有瑕疵,其中该控制器包含:一放大电路,将接收的该第一光线与该第二光线之类比讯号放大;以及一类比/数位转换元件,分别将放大后的该第一光线与该第二光线之类比讯号转换成一第一光线与一第二光 线之数位讯号;一振动感测器,用以将该第一光感测器以及该第二光感测器所遭受之一振动,转换为一电性振动讯号;一反相器,用以反相该电性振动讯号;以及一叠加器,其中该控制器用以将该第一光线与该第二光线之数位讯号,运算转换为一电性瑕疵讯号,且该叠加器叠加该电性瑕疵讯号与反相后之该电性振动讯号。
地址 新北市土城区承天路6号