发明名称 用于提高尺寸标注系统测量准确性的方法
摘要 公开了一种使用尺寸标注系统提高对物体尺寸的非接触测量准确性的方法。该方法包括一种基于估计的尺寸中的误差与用于获得估计的尺寸的测量的特性之间观测到的相关性创建数学模型(即,误差模型)的方法。这些误差模型可以被创建用于各种尺寸以及被存储以供未来使用。该方法还包括使用存储的误差模型降低与特定尺寸标注系统测量相关联的误差的方法。这里,误差模型用于创建估计的误差。然后,从尺寸的估计值去除该估计的误差,以产生更准确的尺寸的最终估计值。
申请公布号 CN105547148A 申请公布日期 2016.05.04
申请号 CN201510860188.1 申请日期 2015.10.10
申请人 手持产品公司 发明人 S·麦克罗斯基;R·A·罗伊德;李建强;B·L·乔瓦诺夫斯基
分类号 G01B11/00(2006.01)I 主分类号 G01B11/00(2006.01)I
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人 申屠伟进;王传道
主权项 一种用于从尺寸标注系统测量去除误差的方法,所述方法包括:提供尺寸标注系统;使用尺寸标注系统测量收集对应于环境中物体的三维(3D)数据;选择要被估计的特定尺寸;获得一个或多个预测器变量的值,所述预测器变量描述所述特定尺寸的尺寸标注系统测量的各方面;使用所述3D数据创建所述特定尺寸的中间估计值;从误差模型库检索对应于所述特定尺寸的误差模型;使用所述误差模型以及一个或多个预测器变量的值来计算所述特定尺寸的误差估计值;以及从所述中间估计值减去所述误差估计值,以获得所述特定尺寸的最终估计值。
地址 美国纽约州