发明名称 一种基于形貌特征的微接触特性与图像阈值处理方法
摘要 一种基于形貌特征的微接触特性与图像阈值处理方法,步骤为:将需要研究的样本表面进行表面成像,获取该样本表面的微形貌特征;设置采样的点阵密度,输出描述表面轮廓特征的点阵数据;去除错误点、插值处理后,读入处理,将拟合的曲面导入进行接触分析,通过MODEL操作将曲面封闭为实体,建立封闭实体;将导入的实体进行网格划分,表面网格要进行多次的细化,获得可供分析的有限元模型,进行预应力接触分析,获得接触表面的预应力分布图像,获得不同阈值范围的接触应力的情况,研究者通过计算出不同颜色下的轮廓所占的面积,从而精确地获得该接触状态下的接触表面之间的接触面积。本发明可以有效且精确地获得接触表面的接触特性。
申请公布号 CN103366377B 申请公布日期 2016.04.27
申请号 CN201310316893.6 申请日期 2013.07.25
申请人 北京航空航天大学 发明人 王延忠;魏彬;宁克焱;韩明;郭超;吴向宇;李圆
分类号 G06T7/00(2006.01)I;G06T17/30(2006.01)I 主分类号 G06T7/00(2006.01)I
代理机构 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人 成金玉;卢纪
主权项 一种基于形貌特征的微接触特性与图像阈值处理方法,其特征在于实现步骤如下:步骤一:使用镭射显微镜将需要研究的样本表面进行表面成像,通过计算机获取该样本表面轮廓特征;步骤二:设置采样的点阵密度,通过计算机输出描述表面轮廓特征的点阵数据,点阵数据为各相邻点的位置信息和高度信息;步骤三:针对点阵数据,建立以理想平面为基准的对称容错区间,通过计算机进行数据遍历和筛选,将容错区间以外的数据去除,通过双向平均规范积累弦长参数化方法,将点阵数据进行参数化;所述双向平均规范积累弦长参数化方法为:对点阵数据分别在u方向和v方向进行参数化,设沿u向第j排数据点P<sub>ij</sub>的规范积累弦长的参数化为u<sub>ij</sub>,则公共的u向参数化可取其算数平均值:<maths num="0001" id="cmaths0001"><math><![CDATA[<mrow><msub><mi>u</mi><mi>i</mi></msub><mo>=</mo><mfrac><mn>1</mn><mrow><mi>n</mi><mo>+</mo><mn>1</mn></mrow></mfrac><munderover><mo>&Sigma;</mo><mrow><mi>j</mi><mo>=</mo><mn>0</mn></mrow><mi>n</mi></munderover><msub><mi>u</mi><mrow><mi>i</mi><mi>j</mi></mrow></msub><mo>,</mo><mi>i</mi><mo>=</mo><mn>0</mn><mo>,</mo><mn>1</mn><mo>,</mo><mn>2</mn><mo>...</mo><mo>,</mo><mi>m</mi></mrow>]]></math><img file="FDA0000920861100000011.GIF" wi="806" he="189" /></maths>        式1在v方向的参数化公式为:<maths num="0002" id="cmaths0002"><math><![CDATA[<mrow><msub><mi>v</mi><mi>j</mi></msub><mo>=</mo><mfrac><mn>1</mn><mrow><mi>m</mi><mo>+</mo><mn>1</mn></mrow></mfrac><munderover><mo>&Sigma;</mo><mrow><mi>i</mi><mo>=</mo><mn>0</mn></mrow><mi>m</mi></munderover><msub><mi>v</mi><mrow><mi>i</mi><mi>j</mi></mrow></msub><mo>,</mo><mi>j</mi><mo>=</mo><mn>0</mn><mo>,</mo><mn>1</mn><mo>,</mo><mn>2</mn><mo>...</mo><mo>,</mo><mi>n</mi></mrow>]]></math><img file="FDA0000920861100000012.GIF" wi="811" he="174" /></maths>         式2利用Hermite插值在两个方向上对参数化后的数据点阵进行插值处理,将形成的插值曲面读入Matlab分析处理,获得插值后表面形貌的图像;步骤四:将MATLAB拟合的曲面导入ANSYS进行接触分析,在ANSYS中通过MODEL操作将曲面封闭为实体,建立封闭实体;步骤五:将导入的实体进行网格划分,表面网格要进行多次的细化,建立刚性平面,提前给出偏置,将平面中最高点的位移坐标作为刚性平面的位置坐标;步骤六:对ANSYS有限元模型进行预应力接触分析,获得接触表面的von misses应力分布云图;步骤七:在获得的应力分布图像上,通过控制接触分析结果的应力阈值范围,在接触表面的von misses应力分布云图上划分出阈值范围内的区域,以此获得不同阈值范围的接触特性的情况,实现对于不同接触状态下的接触特性的判定;步骤八:将von misses应力分布云图上划分出阈值范围内的区域进行二值化处理,通过像素分析,获得不同颜色区域占整个区域的面积的比例,若需要改变接触状态,将阈值范围限定到其他的值,并且在改变后的阈值范围内,进行区域的划分与二值化处理,计算出特定颜色下的轮廓所占的面积。
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