发明名称 |
X射线组合折射透镜聚焦性能测试装置 |
摘要 |
一种X射线组合折射透镜聚焦性能测试装置,包括底座导轨、位于所述底座导轨上的X射线光管、激光器、金属丝和X射线探测器件,调整台位于所述底座导轨的一侧,所述X射线光管、激光器可横向移动地安装在所述调整台上;待检测X射线组合折射透镜位于所述底座导轨的中部,所述X射线探测器件位于所述底座导轨的另一侧;在所述待检测X射线组合折射透镜和X射线探测器件之间的底座导轨上可纵向移动地安装调节支架,所述调节支架上可横向移动地安装横向滑块,所述横向滑块上安装用于切割经X射线组合折射透镜聚焦后的探测光束的金属丝,所述金属丝的尺寸要求是微米量级。本发明简化结构、大大减低成本、实用性良好。 |
申请公布号 |
CN103454069B |
申请公布日期 |
2016.04.13 |
申请号 |
CN201310364068.3 |
申请日期 |
2013.08.20 |
申请人 |
浙江工业大学 |
发明人 |
乐孜纯;董文 |
分类号 |
G01M11/02(2006.01)I |
主分类号 |
G01M11/02(2006.01)I |
代理机构 |
杭州斯可睿专利事务所有限公司 33241 |
代理人 |
王利强 |
主权项 |
一种X射线组合折射透镜聚焦性能测试装置,其特征在于:所述聚焦性能测试装置包括底座导轨、位于所述底座导轨上的X射线光管、激光器、金属丝和X射线探测器件,所述底座导轨呈纵向布置;调整台位于所述底座导轨的一侧,所述X射线光管、激光器的光轴均呈纵向布置,所述X射线光管、激光器可横向移动地安装在所述调整台上;待检测X射线组合折射透镜位于所述底座导轨的中部,所述待检测X射线组合折射透镜的光轴呈纵向布置;所述X射线探测器件位于所述底座导轨的另一侧,所述X射线探测器件的光轴与所述X射线组合折射透镜的光轴在同一直线上;所述X射线光管或激光器的出射端与所述待检测X射线组合折射透镜的入射端呈相对设置,所述待检测X射线组合折射透镜的出射端与X射线探测器件呈相对设置;在所述待检测X射线组合折射透镜和X射线探测器件之间的底座导轨上可纵向移动地安装调节支架,所述调节支架上可横向移动地安装横向滑块,所述横向滑块上安装用于切割经X射线组合折射透镜聚焦后的探测光束的金属丝,所述金属丝的尺寸要求是微米量级。 |
地址 |
310014 浙江省杭州市下城区朝晖六区潮王路18号 |