发明名称 | 一种离散刀具轨迹的曲线拟合方法 | ||
摘要 | 本发明公开了一种离散刀具轨迹的曲线拟合方法,首先根据离散刀具轨迹建立拟合曲线,其次通过采样点将所述拟合曲线划分为多个采样区间,并通过计算多个采样区间内的最大弦高差,以及离散刀具轨迹到拟合曲线的距离,从而判断所述拟合曲线的最大弦高差是否超过加工系统的弦高差阈值,以及所述拟合曲线的光顺性是否满足加工系统的要求,然后根据检测结果对拟合曲线进行调整,最终建立具有满足加工系统误差以及光顺性要求的轨迹曲线。通过本发明,能高效率地全面检测拟合曲线上超过加工系统的误差阈值的区间,从而使得离散刀具轨迹的拟合曲线不仅能满足弦高差的精度要求,同时也满足光顺性要求,使得数控加工产品具有更高的精度以及更好的加工质量。 | ||
申请公布号 | CN105425725A | 申请公布日期 | 2016.03.23 |
申请号 | CN201510903480.7 | 申请日期 | 2015.12.09 |
申请人 | 华中科技大学;武汉华中数控股份有限公司 | 发明人 | 李振瀚;何姗姗;黄艳芬;欧道江;江海清;陈吉红 |
分类号 | G05B19/19(2006.01)I | 主分类号 | G05B19/19(2006.01)I |
代理机构 | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人 | 朱仁玲 |
主权项 | 一种离散刀具轨迹的曲线拟合方法,其特征在于,首先根据离散刀具轨迹建立拟合曲线,其次通过采样点将所述拟合曲线划分为多个采样区间,并通过计算多个采样区间内的最大弦高差,以及离散刀具轨迹到拟合曲线的最近距离,从而判断所述拟合曲线是否超过加工系统的误差阈值,以及所述拟合曲线的光顺性是否满足加工系统的要求,然后根据判断结果对拟合曲线进行调整,最终建立具有满足加工系统误差以及光顺性要求的轨迹曲线。 | ||
地址 | 430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号 |