| 发明名称 | 用于基于IR辐射的温度测定的方法和基于IR辐射的温度测量设备 | ||
| 摘要 | 在温度测量设备(1)中设有IR辐射探测器(2)和与一物体(7)的表面良好传热地连接的基准元件(3)，其中在基准元件(3)上构造有具有高发射率的第一区域(4)和具有高反射率的第二区域(5)并且IR辐射探测器(2)设置用于单独地检测各区域(4、5)和物体(7)的表面区域(12)的IR辐射(9、10、11)，其中在IR辐射探测器(2)中构造有计算装置(13)，所述计算装置设置用于由检测的IR辐射(9、10、11)得出物体(7)的发射和反射校正的温度值。 | ||
| 申请公布号 | CN102221410B | 申请公布日期 | 2016.03.09 |
| 申请号 | CN201110073043.9 | 申请日期 | 2011.03.25 |
| 申请人 | 特斯托股份公司 | 发明人 | M·斯特拉特曼;S·欣克尔;D·奥尔;P·查恩;A·梅塞施米德 |
| 分类号 | G01J5/10(2006.01)I;G01J5/02(2006.01)I | 主分类号 | G01J5/10(2006.01)I |
| 代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人 | 沈英莹 |
| 主权项 | 用于基于IR辐射对物体(7)进行温度测定的方法，其特征在于，使一基准元件(3)处于与物体(7)传热的接触，其中基准元件(3)在其表面上包括具有第一区域(4)和第二区域(5)；其中第一区域的发射率高于第二区域的发射率，并且第二区域的反射率高于第一区域的反射率，单独地检测由基准元件(3)的第一区域(4)发出的第一IR辐射(9)、由基准元件(3)的第二区域(5)发出的第二IR辐射(10)和由物体(7)的表面区域(12)发出的第三IR辐射(11)；对检测出的各IR辐射(9、10、11)分别确定至少一个测量值，并且由确定的各测量值求得物体的表面区域(12)的发射率和物体(7)的反射的IR辐射的部分，利用电子的图像分析装置(19)通过图案识别算法和/或特征识别算法在已拍摄的图像(15、17)中能够识别出基准元件(3)的第一区域(4)和/或第二区域(5)，基准元件(3)在使用之前设有定义一个特征的标记(18)，通过电子的图像分析装置(19)在已拍摄的图像(15、17)中识别该标记(18)并确定该标记的位置，并且关于识别的和定位的标记(18)选择要从第一区域(4)和/或由第二区域(5)检测的IR辐射(9、10)，和/或在检测IR辐射(9、10、11)之前将一瞄准装置对准物体(7)的表面区域(12)和/或基准元件(3)。 | ||
| 地址 | 德国伦茨基希 | ||