发明名称 一种氮化镓基绝缘栅双极晶体管制备方法及其产品
摘要 本申请公开了一种氮化镓基绝缘栅双极晶体管制备方法及产品,该制备如下:在P+氮化镓衬底上外延生长N-型掺杂的氮化镓漂移层;在N-型掺杂的氮化镓漂移层上,利用离子注入形成P+掺杂区;在P+型掺杂区上,利用离子注入形成N+掺杂区;高温退火,激活掺杂原子;一次沉积SiO<sub>2</sub>栅氧化层;一次刻孔SiO<sub>2</sub>,露出发射极、栅极窗口;制备发射极、集电极接触;制备栅极金属接触;二次沉积SiO<sub>2</sub>介质层;二次刻孔SiO<sub>2</sub>,露出发射极窗口;发射极互联、集电极和栅极电极金属加厚。该工艺过程简单、重复性好、可靠性高。经过合理的外延层结构设计与合适的注入掺杂,实现了氮化镓基绝缘栅双极晶体管所需的基本材料结构。此外,该晶体管保证了器件具有很高的击穿电压与通态电流。
申请公布号 CN105374860A 申请公布日期 2016.03.02
申请号 CN201510892854.X 申请日期 2015.12.08
申请人 北京华进创威电子有限公司;中国科学院半导体研究所 发明人 王晓亮;闫俊达;李百泉;王权;肖红领;冯春;殷海波;姜丽娟;邱爱芹;介芳
分类号 H01L29/66(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I;H01L29/739(2006.01)I 主分类号 H01L29/66(2006.01)I
代理机构 北京中创阳光知识产权代理有限责任公司 11003 代理人 尹振启
主权项 一种氮化镓基绝缘栅双极晶体管制备方法,其特征在于,所述制备方法包括如下步骤:1)将氮化镓衬底清洗后放入金属有机物化学气相沉积设备中,在P+氮化镓衬底上外延生长N‑型掺杂的氮化镓漂移层;2)在所述N‑型掺杂的氮化镓漂移层上,利用离子注入形成P+掺杂区;3)在所述P+型掺杂区上,利用离子注入形成N+掺杂区;4)高温退火,激活掺杂原子;5)一次沉积SiO<sub>2</sub>栅氧化层;6)一次刻孔SiO<sub>2</sub>,露出发射极、栅极窗口;7)制备发射极、集电极接触;8)制备栅极金属接触;9)二次沉积SiO<sub>2</sub>介质层;10)二次刻孔SiO<sub>2</sub>,露出发射极窗口;11)发射极互联、集电极和栅极电极金属加厚。
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