发明名称 |
一种图像传感器的坏点处理方法及系统 |
摘要 |
本发明实施例公开了一种图像传感器的坏点处理方法及系统,所述方法包括:预设坏簇类型与插值算法的映射表;检测坏点的位置信息以及坏点所对应的坏簇类型信息,并存储;根据坏点的位置信息在采集的图像中查找坏点,根据坏点所对应的坏簇类型信息在映射表中选择相匹配的插值算法,利用该插值算法对所述坏点进行插值处理。本发明实施例提供的一种图像传感器的坏点处理方法及系统根据外围坏点的分布类型对坏簇进行分类,针对坏点所对应的不同坏簇类型采用不同的插值算法,使得每个坏点都能得到最优的插值结果,进而提高图像传感器的坏点处理效果。 |
申请公布号 |
CN105306843A |
申请公布日期 |
2016.02.03 |
申请号 |
CN201510684449.9 |
申请日期 |
2015.10.20 |
申请人 |
凌云光技术集团有限责任公司 |
发明人 |
郭慧;杨艺;谢森 |
分类号 |
H04N5/357(2011.01)I;H04N5/367(2011.01)I |
主分类号 |
H04N5/357(2011.01)I |
代理机构 |
北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 |
代理人 |
逯长明;许伟群 |
主权项 |
一种图像传感器的坏点处理方法,其特征在于,所述方法包括:预设坏簇类型与插值算法的映射表;检测坏点的位置信息以及坏点所对应的坏簇类型信息,并存储;根据坏点的位置信息在采集的图像中查找坏点,根据坏点所对应的坏簇类型信息在映射表中选择相匹配的插值算法,利用该插值算法对所述坏点进行插值处理;其中,所述坏簇类型具体为:图像中以坏点为中心的模块内外围像素点中外围坏点的分布类型。 |
地址 |
100094 北京市海淀区玉津东路智谷中心2号楼 |