荧光寿命表观遗传学测定

摘要

本发明涉及基于测量荧光寿命(FLT)来测定酶活性的方法。特别地，本发明涉及对能够修饰肽底物结构之酶的测定，所述酶包括例如催化肽底物之甲基化、脱甲基化、乙酰化、脱乙酰化或脱亚氨化的酶。

主权项

测定受试样品中修饰酶之活性的非诊断方法，其包括：(a)使所述受试样品与荧光受调节之酶底物相接触，所述底物包含与荧光部分和配置成调节所述荧光部分之荧光寿命的荧光寿命调节剂部分相缀合的接头分子，其中所述底物通过所述修饰酶的作用来修饰以形成经修饰底物，由于所述修饰而使得所述经修饰底物之所述接头分子在所述荧光部分与所述荧光寿命调节剂部分之间对第二种酶的切割敏感或者保护所述经修饰底物之所述接头分子在所述荧光部分与所述荧光寿命调节剂部分之间免于被第二种酶切割，其中通过所述第二种酶切割所述底物或所述经修饰底物将含有所述荧光寿命调节剂部分之所述底物的一部分与含有所述荧光部分之所述底物的一部分分开；以及(b)通过检测由所述第二种酶对所述经修饰底物和/或所述底物之作用而引起的所述荧光部分之所述荧光寿命的变化来检测所述经修饰底物的形成，其中所述经修饰底物的形成为所述修饰酶的活性提供指示。