| 摘要 |
관심 영역의 하나 이상의 전자기 특성을 결정하기 위한 적어도 하나의 장치(100, 400) 및 방법이 설명된다. 상기 관심 영역에 상응하는 하나 이상의 인덕티브 측정들(410) 및 상기 관심 영역에 상응하는 하나 이상의 캐패시티브 측정들(420)이 수신된다. 전기 유도성의 추정은 적어도 상기 수신된 하나 이상의 인덕티브 측정들(410)에 기반하여 획득된다(430). 이것은 적어도 상기 수신된 하나 이상의 캐패시티브 측정들(440)과 함께 유전율 측정(440)을 결정하기 위해 사용된다. |
