发明名称 | 用于引线框条测试的延伸接触区域 | ||
摘要 | 用于引线框条测试的延伸接触区域。引线框条包括连接到引线框条的周边的多个单元引线框,每个单元引线框具有管芯踏板、多个引线和附着到管芯踏板的半导体管芯。通过至少使引线与引线框条的周边电隔离,从而使得在与引线框条的周边电隔离之后,引线中的至少一些不间断地延伸超过单元引线框的最终引线轮廓来测试引线框条。测试半导体管芯,这包括探测管芯踏板和在与引线框条的周边电隔离之后不间断地延伸超过单元引线框的最终引线轮廓的引线。在测试半导体管芯之后沿着单元引线框的最终引线轮廓从引线框条切断单元引线框。 | ||
申请公布号 | CN105244296A | 申请公布日期 | 2016.01.13 |
申请号 | CN201510393564.0 | 申请日期 | 2015.07.07 |
申请人 | 英飞凌科技股份有限公司 | 发明人 | 邱尔万;林丽叶;陈天山 |
分类号 | H01L21/66(2006.01)I | 主分类号 | H01L21/66(2006.01)I |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人 | 王岳;胡莉莉 |
主权项 | 一种测试引线框条的方法,引线框条包括连接到引线框条的周边的多个单元引线框,每个单元引线框具有管芯踏板、多个引线和附着到管芯踏板的半导体管芯,所述方法包括:至少使引线与引线框条的周边电隔离,使得在与引线框条的周边电隔离之后,引线中的至少一些不间断地延伸超过单元引线框的最终引线轮廓;测试半导体管芯,这包括探测管芯踏板和在与引线框条的周边电隔离之后不间断地延伸超过单元引线框的最终引线轮廓的引线;以及在测试半导体管芯之后沿着单元引线框的最终引线轮廓从引线框条切断单元引线框。 | ||
地址 | 德国瑙伊比贝尔格市坎芘昂1-12号 |