发明名称 基于光强测量积分时间优化的Stokes矢量测量系统及方法
摘要 本发明公开了一种基于光强测量积分时间优化的Stokes矢量测量系统及方法,激光光源发出的光经过准直透镜入射到反射板,经反射板反射后经过第一偏振片形成固定的待测Stokes矢量,再经过由四分之一波片和第二偏振片组成的偏振态分析器后进入光强探测器件;调节四分之一波片和第二偏振片的角度实现测量矩阵W中的各个偏振状态;根据各个偏振状态求出相应的测量矩阵,将各个PSA状态下的光强测量积分时间考虑在内;计算待测Stokes矢量总方差关于积分时间的函数;利用最优化算法求待测Stokes矢量总方差对应的最优化光强测量积分时间;根据优化后的积分时间进行采集实验,计算Stokes矢量各个分量的方差及其总方差。本发明有效降低Stokes矢量测量的总方差,从而提高Stokes矢量测量精度。
申请公布号 CN105203209A 申请公布日期 2015.12.30
申请号 CN201510546871.8 申请日期 2015.08.31
申请人 天津大学 发明人 胡浩丰;李校博;刘铁根;黄柄菁;江俊峰;刘琨
分类号 G01J4/00(2006.01)I 主分类号 G01J4/00(2006.01)I
代理机构 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 代理人 李素兰
主权项 一种基于光强测量积分时间优化的Stokes矢量测量系统,其特征在于,该系统从输入至输出,依序包括激光光源(1)、准直透镜(2)、反射板(3)、第一偏振片(4)、四分之一波片(5)、第二偏振片(6)以及光强探测器件(7);其中:激光光源(1)发出的光经过准直透镜(2)入射到反射板(3),经反射板(3)反射后经过第一偏振片(4)形成固定的待测Stokes矢量,再经过由四分之一波片(5)和第二偏振片(6)组成的偏振态分析器后进入光强探测器件(7);通过调节四分之一波片(5)和第二偏振片(6)的角度实现测量矩阵W中的各个偏振状态。
地址 300072 天津市南开区卫津路92号