发明名称 |
扇出型封装制备方法 |
摘要 |
本发明提供了一种扇出型封装制备方法,通过在涂覆临时键合胶的承载片上制作第一绝缘树脂层,并在第一绝缘树脂层上形成开口,第一绝缘树脂层上的开口作为芯片贴装的对准标记,解决了FOWLP封装钝化层与芯片贴装的对准精度问题。同时,无需在承载片上制作对准标记点,减少了工艺流程,降低了成本。 |
申请公布号 |
CN105206539A |
申请公布日期 |
2015.12.30 |
申请号 |
CN201510553354.3 |
申请日期 |
2015.09.01 |
申请人 |
华进半导体封装先导技术研发中心有限公司 |
发明人 |
陈峰;陆原;刘一波;林挺宇 |
分类号 |
H01L21/56(2006.01)I;H01L23/31(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/56(2006.01)I |
代理机构 |
无锡市大为专利商标事务所(普通合伙) 32104 |
代理人 |
殷红梅;韩凤 |
主权项 |
扇出型封装制备方法,其特征是,包括以下步骤:(1)承载片表面涂覆临时键合胶,临时键合胶表面再涂覆第一绝缘树脂层,第一绝缘树脂层表面形成开口;(2)将芯片倒贴在承载片上第一绝缘树脂层表面,以第一绝缘树脂层上的开口作为芯片贴装的对准标记,使芯片的焊盘对准第一绝缘树脂层的开口;(3)在第一绝缘树脂层表面覆盖第二绝缘树脂层,将芯片包裹住;(4)去除承载片和临时键合胶;(5)在第一绝缘树脂层和芯片表面形成导电线路,导电线路与芯片的焊盘相连接;(6)在导电线路上覆盖第三绝缘树脂层,并在第三绝缘树脂层表面开窗,露出部分导电线路;(7)在露出的导电线路上制作焊球。 |
地址 |
214135 江苏省无锡市新区菱湖大道200号中国传感网国际创新园D1栋 |