| 摘要 |
<p>본 명세서에 개시된 기술은 생산용 칩 디자인을 준비하기 위한 디자인 데이터의 그래뉼러 분석(granular analysis) 및 디자인 데이터 파일들의 일부분들 중에서 유사 사항과 차이 사항의 식별에 관한 것이다. 특히, 본 명세서에 개시된 기술은 데이터를 파싱하여 정규 형식(canonical form)들로 구성하는 것과, 상기 정규 형식들의 다이제스트들을 구하는 것과 그리고 다른 소스들, 이를 테면 칩-레벨 디자인들 및 디자인 템플릿 라이브러리들에서 가져온 디자인 데이터의 다이제스트들을 비교하는 것에 관한 것이다. 상기 디자인 데이터를 정규 형식으로 구성함으로써 일반적으로 상기 디자인 상에 기능적인 영향을 미치지 않는 상기 데이터 내의 변형들에 대한 데이터 분석 상의 민감도가 감소된다. 상기 그래뉼러 분석의 구체적인 사항들은 디자인 모양을 나타내기 위해 사용되는 디자인 언어들에 따라 달라진다. 희망하는 분석과 디자인 언어들에 따라, 그래뉼러 분석은 헤더/셀 부분들에 의하여, 코멘트들의 별도 취급에 의하여, 기능적으로 유의미한/무의미한 데이터에 의하여, 화이트스페이스/비-화이트스페이스에 의하여, 그리고 디자인 데이터의 유닛 내부의 레이어에 의하여 디자인 파인들을 구분하여 분할하는 것을 포함할 수 있다. 관심의 상기 유사 사항과 차이사항들은 상기 그래뉼러 분석의 목적에 따라 다르다. 상기 비교 과정들은 여러 관점에서 유용하다. 본 발명의 특정 양상들이 특허청구범위, 상세한 설명 및 도면에 기술된다.</p> |
