| 发明名称 | 通过使用微波辐射测量设备内部中的沉积物的方法和装置 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种通过使用微波辐射测量设备(10)的内部(12)中的沉积物的方法，包括以下步骤：a)将至少一个微波谐振器(20)布置在设备(10)的内部(12)中，其中，微波谐振器(20)的内部(36)以一种可以进行物质交换的方式连接至设备(10)的内部(12)，或将设备(10)的内部形成为至少一个微波谐振器(20)，b)将微波辐射引入该至少一个微波谐振器(20)中，和c)确定该至少一个微波谐振器(20)的谐振频率和/或谐振品质，其中，重复步骤b)和c)，从该至少一个微波谐振器(20)的谐振频率和/或谐振品质的变化得到设备(10)的内部(12)中的沉积物的量和/或类型。本发明还涉及一种用于执行该方法的装置。 | ||
| 申请公布号 | CN105190293A | 申请公布日期 | 2015.12.23 |
| 申请号 | CN201480022966.3 | 申请日期 | 2014.04.22 |
| 申请人 | 巴斯夫欧洲公司 | 发明人 | S·瓦格勒纳;I·亨尼希 |
| 分类号 | G01N22/00(2006.01)I | 主分类号 | G01N22/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人 | 吴鹏;马江立 |
| 主权项 | 一种通过使用微波辐射测量设备(10)的内部(12)中的沉积物的方法，包括以下步骤：a.将至少一个微波谐振器(20)布置在设备(10)的内部(12)中，其中，微波谐振器(20)的内部(36)以能够进行物质交换的方式连接至设备(10)的内部(12)；或将设备(10)的内部形成为至少一个微波谐振器(20)，b.将微波辐射引入该至少一个微波谐振器(20)中，和c.确定该至少一个微波谐振器(20)的谐振频率和/或谐振品质，其中，重复步骤b)和c)，从该至少一个微波谐振器(20)的谐振频率和/或谐振品质的变化得到设备(10)的内部(12)中的沉积物的量和/或类型。 | ||
| 地址 | 德国路德维希港 | ||