发明名称 Halbleitervorrichtung
摘要 Eine PIN-Diode (2) beinhaltet eine Anodenelektrode (6), eine P-Schicht (3), eine I-Schicht (4), eine N-Schicht (5) und eine Kathodenelektrode (7). Eine Polysilizium-Schicht ist in einer Region nahe dem pn-Übergang oder dem n+-n-Übergang ausgebildet, wo die Dichte der in einem Vorwärtspolungszustand injizierten Ladungsträger relativ hoch ist, als eine vorbestimmte Schicht mit einem Kristalldefekt, der als ein Rekombinationszentrum dient. Die Lebensdauer kann dadurch präzise eingestellt werden.
申请公布号 DE102008024464(A1) 申请公布日期 2009.04.23
申请号 DE20081024464 申请日期 2008.05.21
申请人 MITSUBISHI ELECTRIC CORP. 发明人 FUJII, HIDENORI
分类号 H01L29/868;H01L29/04 主分类号 H01L29/868
代理机构 代理人
主权项
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