发明名称 Verfahren der Zuordnung von Korrekturwerten der Durchbiegung eines Substrats relativ zum Koordinatensystem einer Koordinaten-Messmaschine
摘要 Es ist ein Verfahren der Zuordnung von Korrekturwerten der Durchbiegung eines Substrats (2) relativ zum Koordinatensystem (40) einer Koordinaten-Messmaschine (1) offenbart. Bei jedem gerade im jeweilin der Koordinaten-Messmaschine (1) wird automatisch die Lage der mindestens zwei Referenzmarken (32) auf dem Substrathalter (27) relativ zum Korrdinatensystem (40) der Korrdinaten-Messmaschine (1) bestimmt.
申请公布号 DE102007033619(A1) 申请公布日期 2009.01.29
申请号 DE200710033619 申请日期 2007.07.17
申请人 VISTEC SEMICONDUCTOR SYSTEMS GMBH 发明人 FRICKE, WOLFGANG;GUNDAL, LINDA
分类号 G01B11/03;G01B21/04 主分类号 G01B11/03
代理机构 代理人
主权项
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