发明名称 |
Verfahren der Zuordnung von Korrekturwerten der Durchbiegung eines Substrats relativ zum Koordinatensystem einer Koordinaten-Messmaschine |
摘要 |
Es ist ein Verfahren der Zuordnung von Korrekturwerten der Durchbiegung eines Substrats (2) relativ zum Koordinatensystem (40) einer Koordinaten-Messmaschine (1) offenbart. Bei jedem gerade im jeweilin der Koordinaten-Messmaschine (1) wird automatisch die Lage der mindestens zwei Referenzmarken (32) auf dem Substrathalter (27) relativ zum Korrdinatensystem (40) der Korrdinaten-Messmaschine (1) bestimmt.
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申请公布号 |
DE102007033619(A1) |
申请公布日期 |
2009.01.29 |
申请号 |
DE200710033619 |
申请日期 |
2007.07.17 |
申请人 |
VISTEC SEMICONDUCTOR SYSTEMS GMBH |
发明人 |
FRICKE, WOLFGANG;GUNDAL, LINDA |
分类号 |
G01B11/03;G01B21/04 |
主分类号 |
G01B11/03 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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