发明名称 半导体装置及半导体装置的制造方法
摘要 本发明的课题是在于不分别使用SOI基板,将具有彼此相异膜厚的半导体层形成于绝缘体上。其解决手段为:以第1半导体层13能够被覆盖的方式在半导体基板11上形成第2半导体层14,以第3半导体层15能够被覆盖的方式在第2半导体层14上形成第4半导体层17,以第5半导体层18能够被覆盖的方式在第4半导体层17上形成第6半导体层20之后,蚀刻去除第1半导体层13、第3半导体层15及第5半导体层18,在半导体基板11与第2半导体层14之间的空洞部30a形成埋入绝缘层31a,在第2半导体层14与第4半导体层17之间的空洞部30b形成埋入绝缘层31b,在第4半导体层17与第6半导体层20之间的空洞部30c形成埋入绝缘层31c。
申请公布号 TW200733391 申请公布日期 2007.09.01
申请号 TW096101832 申请日期 2007.01.17
申请人 精工爱普生股份有限公司 发明人 泷泽照夫
分类号 H01L29/78(2006.01) 主分类号 H01L29/78(2006.01)
代理机构 代理人 林志刚
主权项
地址 日本