可降低被测物表面反光的三维测量系统

摘要

本发明涉及一种可降低被测物表面反光的三维测量系统。该系统包括图像分析及控制系统、投影机及相机；图像分析及控制系统用于控制所述投影机产生结构光；投影机用于从第一方向将结构光投射到被测物表面，在被测物表面形成变形结构光图案；图像分析及控制系统还用于通过相机从第二方向采集变形结构光图案，并对变形结构光图案进行分析，以获取被测物表面的深度信息；其特征在于，投影机包括第一圆偏振器；结构光通过第一圆偏振器形成圆偏振的结构光后被投射到被测物表面；相机的镜头前端安装有第二圆偏振器；第二圆偏振器用于消除进入相机的光线中的非圆偏振光成分；第一圆偏振器与第二圆偏振器同为左旋圆偏振器或右旋圆偏振器。

主权项

一种可降低被测物表面反光的三维测量系统，包括图像分析及控制系统、投影机及相机；所述图像分析及控制系统用于控制所述投影机产生结构光；所述投影机用于从第一方向将所述结构光投射到被测物表面，在被测物表面形成变形结构光图案；所述图像分析及控制系统还用于通过所述相机从第二方向采集所述变形结构光图案，并对所述变形结构光图案进行分析，以获取被测物表面的深度信息；其特征在于，所述投影机包括第一圆偏振器；所述结构光通过所述第一圆偏振器形成圆偏振的结构光后被投射到被测物表面；所述相机的镜头前端安装有第二圆偏振器；所述第二圆偏振器用于消除进入所述相机的光线中的非圆偏振光成分；所述第一圆偏振器与第二圆偏振器同为左旋圆偏振器或右旋圆偏振器。