发明名称 | 一种显示器光学测试系统及测试方法 | ||
摘要 | 本发明实施例提供一种显示器光学测试系统及测试方法,涉及光学测试领域,能够准确方便的调整光学测试仪与曲面显示器之间的垂直度,减小曲面显示器的光学测试误差。所述显示器光学测试系统,包括调节支架和显示器支架,显示器支架用于支撑待测试显示器,调节支架上设有光学测试仪,光学测试仪上设有激光测距仪,调节支架可带动光学测试仪水平旋转,激光测距仪的出光方向与光学测试仪的出光方向平行。本发明实施例用于显示器的光学测试。 | ||
申请公布号 | CN105092211A | 申请公布日期 | 2015.11.25 |
申请号 | CN201510219247.7 | 申请日期 | 2015.04.30 |
申请人 | 京东方科技集团股份有限公司 | 发明人 | 滕万鹏 |
分类号 | G01M11/02(2006.01)I | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I |
代理机构 | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人 | 李桦 |
主权项 | 一种显示器光学测试系统,其特征在于,包括调节支架和显示器支架,所述显示器支架用于支撑待测试显示器,所述调节支架上设有光学测试仪,所述光学测试仪上设有激光测距仪,所述调节支架可带动所述光学测试仪水平旋转,所述激光测距仪的出光方向与所述光学测试仪的出光方向平行。 | ||
地址 | 100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号 |