一种用于TSV自检测和分类校验的装置

摘要

本发明公开了一种用于TSV自检测和分类校验的装置，是由各TSV连接上芯片层和下芯片层间；在上芯片层中各TSV的顶端两两相连形成一个封闭环，上共公点O与各TSV的顶端分别相连，以上芯片层作为接收端；在上共公点O上连接延时装置，作为所有TSV共同的反弹的顶；在下芯片层上，每两根TSV的下端点之间连接一个异或门，各异或门的输出端一一对应地连接在各自触发器的触发端，各触发器的输出端连接译码器；在下芯片层上的下共公点F与所有各TSV的下端分别相连，以下芯片层作为发送端；在其中的一根TSV的顶端连接缓冲器和由反相器构成的延时装置，在下端连接一个数据比较装置。本发明可以简化测试过程、降低测试成本，并能保证测试精度。

主权项

一种用于TSV自检测和分类校验的装置，其特征是：设置一柱形结构，所述柱形结构的支架是各TSV，由所述各TSV连接上芯片层和下芯片层；在上芯片层中，各TSV的顶端两两相连形成一个封闭环，以一固定点作为上共公点O，所述上共公点O与所有各TSV的顶端分别相连，作为各TSV共同的终点，以所述上芯片层作为接收端；在所述上共公点O上连接一个由偶数个反相器串联组成的延时装置，作为所有TSV共同的反弹的顶；在下芯片层上，各TSV的下端形成一个对应的虚拟环，所述虚拟环是在每两根TSV的下端点之间连接一个异或门，各异或门的输出端一一对应地连接在各自触发器的触发端，各触发器的输出端连接至一个译码器上；在所述下芯片层上有一个固定点作为下共公点F，所述下共公点F与所有各TSV的下端分别相连，作为各TSV的共同的源点，以所述下芯片层作为发送端；在其中的一根TSV的顶端连接缓冲器和由反相器构成的延时装置，在下端连接一个数据比较装置，所述数据比较装置由三态门E、触发器和异或门构成。