发明名称 SEMICONDUCTOR DEVICE
摘要 <p>반도체 장치의 사양들 내의 전압이 얻어지는지 여부를 반도체 장치에서 용이하게 검출하기 위한 것이다. 반도체 장치는 반도체 장치의 내부 회로의 출력 전압을 검출하고 출력 전압이 반도체 장치의 사양들 내에 있는지 또는 사양들 외에 있는지 여부를 판정하는 검출 회로를 포함한다. 출력 전압이 사양들 내에 있는지 또는 사양들 외에 있는지 여부를 판정하기 위한 신호가 검출 회로로부터 디지털 회로로 송신되고, 디지털 회로는 신호에 따라 회로 동작을 수행하거나 정지한다.</p>
申请公布号 KR101563904(B1) 申请公布日期 2015.10.28
申请号 KR20117009563 申请日期 2009.09.01
申请人 发明人
分类号 H01L21/822;H01L27/04;H01L29/861 主分类号 H01L21/822
代理机构 代理人
主权项
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