| 摘要 |
<p>결점 검사를 보다 적합하게 행할 수 있는 광학 표시 장치 제조 시스템 및 광학 표시 장치 제조 방법을 제공한다. 검사 장치(30)에 의해 행하여지는 광학 필름이 접합된 광학 표시 장치의 검사 결과에 기초하여, 결점 검사 장치(14, 24)에 의해 행하여지는 광학 표시 유닛에 접합되기 전의 광학 필름의 검사에서의 결점의 검출 조건을 보정하고, 그 보정한 검출 조건에 기초하여 결점 검사 장치(14, 24)에 의해 검출한 결점을 포함하는 광학 필름을 배제한다. 이에 의해, 나중에 검사 장치(30)에 의해 행하여지는 결점 검사의 기준에 맞추어, 결점 검사 장치(14, 24)에 의해 행하여지는 결점 검사의 기준을 조정할 수 있으므로, 결점 검사를 보다 적합하게 행할 수 있어, 광학 필름의 수율을 향상시킬 수 있다.</p> |
