发明名称 |
用于CMOS的双轴拉伸应变锗通道;BI-AXIAL TENSILE STRAINED GE CHANNEL FOR CMOS |
摘要 |
一种设备包含:互补金属氧化物半导体(CMOS)反相器,包含有n-通道金属氧化物半导体场效电晶体(MOSFET);及p-通道MOSFET,其中在该n-通道MOSFET的通道材料与在该p-通道MOSFET中的通道材料受到双轴拉伸应变。一种方法,包含:形成n-通道金属氧化物半导体场效电晶体(MOSFET);形成p-通道MOSFET;及连接该n-通道MOSFET及该p-通道MOSFET的闸极电极与汲极区,其中在该n-通道MOSFET中之通道材料与在该p-通道MOSFET中之通道材料受到双轴拉伸应变。; and a p-channel MOSFET, wherein a material of a channel in the n-channel MOSFET and a material of a channel in the p-channel MOSFET is subject to a bi-axial tensile strain. A method including forming an n-channel metal oxide semiconductor field effect transistor (MOSFET); forming a p-channel MOSFET; and connecting the gate electrodes and the drain regions of the n-channel MOSFET and the p-channel MOSFET, wherein a material of the channel in the n-channel MOSFET and a material of the channel in the p-channel MOSFET is subject to a bi-axial tensile strain. |
申请公布号 |
TW201537684 |
申请公布日期 |
2015.10.01 |
申请号 |
TW103141008 |
申请日期 |
2014.11.26 |
申请人 |
英特尔股份有限公司 INTEL CORPORATION |
发明人 |
马吉 普瑞斯韩特 MAJHI, PRASHANT;穆可吉 尼洛依 MUKHERJEE, NILOY;皮拉瑞斯提 拉维 PILLARISETTY, RAVI;瑞奇曼第 威利 RACHMADY, WILLY;乔 罗伯特 CHAU, ROBERT S. |
分类号 |
H01L21/8238(2006.01);H01L27/092(2006.01);H01L29/78(2006.01) |
主分类号 |
H01L21/8238(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
林志刚 |
主权项 |
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地址 |
美国 US |