发明名称 用于CMOS的双轴拉伸应变锗通道;BI-AXIAL TENSILE STRAINED GE CHANNEL FOR CMOS
摘要 一种设备包含:互补金属氧化物半导体(CMOS)反相器,包含有n-通道金属氧化物半导体场效电晶体(MOSFET);及p-通道MOSFET,其中在该n-通道MOSFET的通道材料与在该p-通道MOSFET中的通道材料受到双轴拉伸应变。一种方法,包含:形成n-通道金属氧化物半导体场效电晶体(MOSFET);形成p-通道MOSFET;及连接该n-通道MOSFET及该p-通道MOSFET的闸极电极与汲极区,其中在该n-通道MOSFET中之通道材料与在该p-通道MOSFET中之通道材料受到双轴拉伸应变。; and a p-channel MOSFET, wherein a material of a channel in the n-channel MOSFET and a material of a channel in the p-channel MOSFET is subject to a bi-axial tensile strain. A method including forming an n-channel metal oxide semiconductor field effect transistor (MOSFET); forming a p-channel MOSFET; and connecting the gate electrodes and the drain regions of the n-channel MOSFET and the p-channel MOSFET, wherein a material of the channel in the n-channel MOSFET and a material of the channel in the p-channel MOSFET is subject to a bi-axial tensile strain.
申请公布号 TW201537684 申请公布日期 2015.10.01
申请号 TW103141008 申请日期 2014.11.26
申请人 英特尔股份有限公司 INTEL CORPORATION 发明人 马吉 普瑞斯韩特 MAJHI, PRASHANT;穆可吉 尼洛依 MUKHERJEE, NILOY;皮拉瑞斯提 拉维 PILLARISETTY, RAVI;瑞奇曼第 威利 RACHMADY, WILLY;乔 罗伯特 CHAU, ROBERT S.
分类号 H01L21/8238(2006.01);H01L27/092(2006.01);H01L29/78(2006.01) 主分类号 H01L21/8238(2006.01)
代理机构 代理人 林志刚
主权项
地址 美国 US