发明名称 一种测试芯片的方法及装置
摘要 本发明公开了一种测试芯片的装置,包括相互独立的服务器、仿真器、控制电路板和执行电路板,其中:所述服务器用于根据测试任务生成相应的测试程序,并输出给仿真器;所述仿真器与服务器连接,用于对所述测试程序进行仿真处理,生成包含测试数据的仿真文件并发送给控制电路板;所述控制电路板与仿真器连接,用于从所述仿真文件中读取相应的测试向量,并将该测试向量发送给执行电路板,以及根据所述执行电路板返回的测试响应判断相应的芯片是否正常;所述执行电路板与控制电路板连接,用于根据控制电路板下发的测试向量对相应的芯片进行测试,并将测试响应发送给所述控制电路板。这样,在对芯片进行量产测试时便不用租用租金昂贵的自动测试仪,从而在很大程度上降低了测试成本。本发明同时公开了一种测试芯片的方法。
申请公布号 CN101038325A 申请公布日期 2007.09.19
申请号 CN200710063930.1 申请日期 2007.02.14
申请人 北京中星微电子有限公司 发明人 崔云飞;吴大畏
分类号 G01R31/3177(2006.01);G01R31/317(2006.01) 主分类号 G01R31/3177(2006.01)
代理机构 北京同达信恒知识产权代理有限公司 代理人 黄志华
主权项 1、一种测试芯片的装置,其特征在于,包括相互独立的服务器、控制电路板和执行电路板,其中:服务器,用于根据测试任务编译相应的测试程序,并通过仿真器将所述测试程序传输给控制电路板;控制电路板,通过仿真器与所述服务器连接,用于从服务器发送的测试程序中读取相应的测试向量,并将该测试向量发送给执行电路板,以及根据所述执行电路板返回的测试响应判断相应的芯片是否正常;执行电路板,与控制电路板连接,用于根据控制电路板下发的测试向量对相应的芯片进行测试,并将测试响应发送给所述控制电路板。
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