发明名称 Optoelectronic position-measuring device.
摘要 Bei einer derartigen Positionsmeßeinrichtung zur Messung der Relativlage zweier Objekte wird die Teilung (T) eines mit dem einen Objekt verbundenen Teilungsträgers (TT) von einer mit dem anderen Objekt verbundenen Abtasteinrichtung (A) abgetastet. Die Abtasteinrichtung (A) weist eine Beleuchtungseinheit (B) zur Erzeugung zweier periodischer Abtastsignale (S1, S2) auf, die einmal einer Auswerteeinrichtung (W) zur Bildung von Meßwerten für die Relativlage der beiden Objekte und zum anderen einer Fehlermeldeeinrichtung (F) zur Erzeugung eines Fehlersignals (FS) bei fehlerhaften Signalparametern der periodischen Abtastsignale (S1, S2) zugeführt werden. Zur Überprüfung der Amplitudenhöhen der beiden periodischen Abtastsignale (S1, S2) wird die normale Versorgungsspannung (V) für die Abtasteinrichtung (A) auf eine reduzierte Versorgungsspannung (Va) für eine bestimmte Prüfzeit (T) abgesenkt, so daß der Helligkeitsgrad der Beleuchtungseinheit (B) vermindert und dadurch die Amplitudenhöhen der beiden periodischen Abtastsignale (S1, S2) reduziert werden. Gibt die Fehlermeldeeinrichtung (F) während dieser Prüfzeit (T) ein Fehlersignal (FS) ab, so gilt dies als Vorwarnung, daß die Helligkeit der Beleuchtungseinheit (B) in nächster Zeit für eine einwandfreie Messung nicht mehr ausreichend sein wird. <IMAGE>
申请公布号 EP0352643(A2) 申请公布日期 1990.01.31
申请号 EP19890113384 申请日期 1989.07.21
申请人 DR. JOHANNES HEIDENHAIN GMBH 发明人 SCHMITT, WALTER
分类号 G01D5/244;G01D18/00 主分类号 G01D5/244
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利