发明名称 高透光率之触控装置
摘要 一种高透光率之触控装置,包含:一基板,及依序叠接于基板顶面之一第一下抗反射层、一触控单元,与一上抗反射层。第一下抗反射层之光学厚度小于等于四分之一可见光波长,且第一下抗反射层与上抗反射层之折射率都小于等于基板之折射率。藉由上抗反射层之折射率与第一下抗反射层之光学厚度搭配的功效,使所有膜层顶面反射之光波形成破坏性干涉,以形成有触控单元区域的光反射率降低而具有高透光率,且利用所有膜层的折射率高、低、高、低相互穿插匹配,再调整各膜层厚度组合,提升波长为400~550奈米之光波的穿透率,改善色差与颜色偏黄与偏红的缺点。
申请公布号 TW200923536 申请公布日期 2009.06.01
申请号 TW097144862 申请日期 2008.11.20
申请人 义强科技股份有限公司 发明人 孙正宏
分类号 G02F1/19(2006.01);G06F3/044(2006.01) 主分类号 G02F1/19(2006.01)
代理机构 代理人 恽轶群;陈文郎
主权项
地址 台南市安南区工业一路36号