光学量测系统

摘要

本发明系揭露一种光学量测系统，适用于量测一玻片之折射率，其包含一雷射位移量测模组、一校正模组、一量测模组、一旋转模组、一位置感测模组以及一处理模组。雷射位移量测模组提供一雷射光，校正模组将雷射光转换成一校正光束及一量测光束。量测模组导引量测光束对玻片进行量测，旋转模组则将玻片转动一角度，使量测光束透过玻片折射出一折射光束。位置感测模组接收校正光束后产生一校正电压，并利用量测光束及折射光束产生一电压差值。最后，处理模组根据旋转角度、校正电压及电压差值计算出玻片的折射率。