发明名称 用于半导体封装之互连结构及其方法
摘要 用于一半导体晶粒封装(die assembly)之互连结构,其包含一增层(build-up layer),此增层具有重布层(redistribution layer, RDL)形成于其中,上述增层系形成于一晶粒上,而此晶粒具有晶粒垫形成于其上方,其中上述重布层系耦合至上述晶粒垫;一隔离基座(isolation base),其具有球形开口(ball openings)附着于上述增层上方用以露出增层内之锡球垫;以及导电球(conductive balls)配置于上述隔离基座之球形开口中并附着于上述增层内之锡球垫上。
申请公布号 TW200917441 申请公布日期 2009.04.16
申请号 TW097137322 申请日期 2008.09.26
申请人 育霈科技股份有限公司 发明人 杨文焜;许献文
分类号 H01L23/48(2006.01);H01L21/60(2006.01) 主分类号 H01L23/48(2006.01)
代理机构 代理人 林静文
主权项
地址 新竹县湖口乡新竹工业区光复北路65号