发明名称 Device inspection
摘要
申请公布号 EP1400855(A3) 申请公布日期 2009.04.08
申请号 EP20030077975 申请日期 2003.09.19
申请人 ASML NETHERLANDS B.V. 发明人 DEN BOEF, ARIE JEFFREY;BORNEBROEK, FRANK;CRAMER, HUGO AUGUSTINUS JOSEPH;DUSA, MIRCEA;VAN HAREN, RICHARD JOHANNES FRANCISCUS;KIERS, ANTIONE GASTON MARIE;KREUZER, JUSTIN LLOYD;VAN DER SCHAAR, MAURITS;VAN WIJNEN, PAUL JACQUES;MOS, EVERHARDUS CORNELIS;JAGER, PIETER WILHELM HERMAN;VAN DER LAAN, HANS;LUEHRMANN, PAUL FRANK
分类号 G03F7/20;G03F7/207;G03F9/00 主分类号 G03F7/20
代理机构 代理人
主权项
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