| 摘要 |
La présente invention concerne un procédé de mesure de l'émissivité d'un corps à surface sensiblement lisse, comprenant les étapes suivantes : a) réalisation d'une première mesure A de la luminance en un point de la surface du corps sous un angle d'émission &thetas;, le rayonnement thermique sur lequel est effectué la mesure étant polarisé dans une première direction par rapport au plan d'émission ; b) réalisation d'une seconde mesure B de la luminance au même point et sous le même angle &thetas;, le rayonnement thermique sur lequel est effectué la mesure étant polarisé dans une seconde direction par rapport au plan d'émission, cette seconde direction étant différente de la première direction ; c) détermination de l'émissivité du corps, ledit procédé étant caractérisé en ce que l'angle &thetas; est compris entre 40° et 50°, et l'émissivité non polarisée du corps et/ou la composante de l'émissivité dans le plan perpendiculaire au plan d'émission et/ou la composante de l'émissivité dans le plan parallèle au plan d'émission est déterminée sur la base des fonctions suivantes : (&thetas;) = 2 - R (&thetas;) = 2 R - R avec .
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