集成电路测试系统的数字通道的传输延迟校准方法及系统

摘要

本发明公开一种集成电路测试系统的数字通道的传输延迟校准方法，包括以下步骤：在集成电路测试系统上设置能够实现传输延迟测量TDR测量模块TDR测量程序；并结合数字通道构建出不同的传输延迟测量通道，由TDR测量模块TDR测量程序驱动集成电路测试系统发出测试脉冲；测试脉冲通过传输延迟测量通道的传播，在末端处反射并沿原路返回，集成电路测试系统根据TDR测量模块TDR测量程序发出的控制指令监测返回脉冲的回波信号；将获得的回波数据通过差分定位算法进行数据处理，计算出数字通道的最终传输延迟时间。解决了传统测量方法只能测量通道物理通路延迟时间却不能实现通道传输延迟校准的技术问题，具有精确度高，可扩展性能好，以及运输便捷的特点。

主权项

一种集成电路测试系统的数字通道的传输延迟校准方法，其特征在于：包括以下步骤：在集成电路测试系统上设置能够实现传输延迟测量TDR测量模块；结合数字通道构建出不同的传输延迟测量通道，由TDR测量模块驱动集成电路测试系统发出测试脉冲；测试脉冲通过传输延迟测量通道的传播，在末端处反射并沿原路返回，集成电路测试系统根据TDR测量模块发出的控制指令监测返回脉冲的回波信号；将获得的回波数据通过差分定位算法进行数据处理，计算出数字通道的最终传输延迟时间。