发明名称 ALD机台腔体的净化方法
摘要 本发明的ALD机台腔体的净化方法,包括:提供晶圆,向所述机台腔体内通入六氯乙硅烷,在所述晶圆上进行原子层沉积工艺;对所述机台腔体进行降压升温;向所述机台腔体同时通入氢气和氧气。本发明中,向机台腔体中同时通入氢气和氧气,使得进行原子沉积的过程中未充分反应的六氯乙硅烷与氢气和氧气反应,反应生成物在相对较低的压强下随气流带至机台腔体外,使得六氯乙硅烷不会与空气中的水汽反应生成硅和二氧化硅的副产物留在机台腔体中,影响机台性能,从而避免机台中的残留物对原子层沉积过程的影响。
申请公布号 CN104911562A 申请公布日期 2015.09.16
申请号 CN201510229506.4 申请日期 2015.05.07
申请人 武汉新芯集成电路制造有限公司 发明人 余先涛;周夏;辛科
分类号 C23C16/44(2006.01)I 主分类号 C23C16/44(2006.01)I
代理机构 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人 屈蘅;李时云
主权项 一种ALD机台腔体的净化方法,其特征在于,包括:提供晶圆,向所述机台腔体内通入六氯乙硅烷,在所述晶圆上进行原子层沉积工艺;对所述机台腔体进行降压升温;向所述机台腔体同时通入氢气和氧气。
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