发明名称 QFN封装返拆工艺
摘要 本发明公开了一种QFN封装返拆工艺,属于微电子技术领域。通过将元器件拆除后返修再封装使用,以最大限度的达到节约能源、降低成本、减少浪费的目的,符合现在社会节能减排的发展趋势,并且实现了产业的可持续发展。
申请公布号 CN102881600B 申请公布日期 2015.08.26
申请号 CN201210346052.5 申请日期 2012.09.18
申请人 奈电软性科技电子(珠海)有限公司 发明人 黄清华;龚天和;刘惠民;彭勇强
分类号 H01L21/50(2006.01)I;B23K1/018(2006.01)I 主分类号 H01L21/50(2006.01)I
代理机构 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 代理人 陈国荣
主权项 QFN封装返拆工艺,其特征在于,包括以下步骤:1)将需要返修的电路板从整板物料上剪切出来;2)将剪切出的电路板放至加热台进行加热,待器件引脚下的焊锡熔解后取出器件;3)对取出的器件进行检查;4)对检查不合格的器件采用烙铁维修;5)将检查合格以及维修后的器件放至清洗机清洗;6)对维修后的器件再次进行检查;7)对检查合格的器件进行封装准备;8)封装;其中步骤7)具体包括将IC类器件用托盘或密封袋及防静电物料袋包装,用托盘盛放时,需统一器件的摆放方向,然后发送至贴片机;将连接器或阻容类器件用OPT袋打包或者用密封袋包装,然后发送至手工生产线。
地址 519040 广东省珠海市金湾区三灶镇安基路217号