发明名称 |
一种超高谱分辨的X射线掠入射显微成像系统 |
摘要 |
本发明提供了一种超高谱分辨的X射线掠入射显微成像系统,它包括两块掠入射曲面X光光学器件,分别命名为第一光学器件和第二光学器件,第一光学器件和第二光学器件的光轴正交,由物点发出的X光经过第一光学器件反射,在子午方向实现聚焦形成准单色化的一维图像,再经过第二光学器件在弧矢方向实现分光并聚焦,形成高单色化的二维图像,最后成像到记录介质上。本发明的超高谱分辨的X射线掠入射显微成像系统具有空间分辨高,能量分辨好,像差小的特点,很好的克服了传统X射线显微镜的缺点。 |
申请公布号 |
CN104819987A |
申请公布日期 |
2015.08.05 |
申请号 |
CN201510155700.2 |
申请日期 |
2015.04.02 |
申请人 |
中国工程物理研究院激光聚变研究中心 |
发明人 |
丁永坤;曹柱荣;邓博;陈韬;安宁;王秋平;江少恩 |
分类号 |
G01N23/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01N23/00(2006.01)I |
代理机构 |
上海科盛知识产权代理有限公司 31225 |
代理人 |
杨元焱 |
主权项 |
一种超高谱分辨的X射线掠入射显微成像系统,其特征在于:包括两块掠入射曲面X光光学器件,分别命名为第一光学器件和第二光学器件,第一光学器件和第二光学器件的光轴正交,由物点发出的X光经过第一光学器件反射,在子午方向实现聚焦形成准单色化的一维图像,再经过第二光学器件在弧矢方向实现分光并聚焦,形成高单色化的二维图像,最后成像到记录介质上。 |
地址 |
621900 四川省绵阳市绵山路64号919信箱986分箱 |