发明名称 治具及校正方法;JIG AND CALIBRATION METHOD
摘要 一种治具,用以校正一光收发模组,此治具包括一光收发模组配置区及一弧形结构。光收发模组适于配置于光收发模组配置区上,且弧形结构以光收发模组配置区的位置为圆心。弧形结构包括多个反射区、多个吸光区及一特征区。这些反射区与这些吸光区交替排列,且特征区为一用以反射的区域或一用以吸光的区域。当特征区为用以反射的区域时,用以反射的区域的宽度不同于每一反射区的宽度。当特征区为用以吸光的区域时,用以吸光的区域的宽度不同于每一吸光区的宽度。一种校正方法亦被提出。
申请公布号 TW201523355 申请公布日期 2015.06.16
申请号 TW102144097 申请日期 2013.12.02
申请人 纬创资通股份有限公司 WISTRON CORPORATION 发明人 甘伟国 KAN, WEI KUO;林彦廷 LIN, YEN TING;陈裕彦 CHEN, YU YEN;黄博亮 HUANG, PO LIANG
分类号 G06F3/041(2006.01);G02B27/62(2006.01) 主分类号 G06F3/041(2006.01)
代理机构 代理人 詹铭文叶璟宗
主权项
地址 新北市汐止区新台五路1段88号21楼 TW