发明名称 一种基于PCI总线的频率特性测试装置和方法
摘要 本发明提供一种基于PCI总线的频率特性测试装置和方法,涉及电学领域,用于解决现有的频率特性测试装置结构复杂、价格昂贵、体积大不易携带等问题。该装置包括:PCI总线、信号生成模块、信号输入输出模块、数据处理模块;信号生成模块在计算器上生成测试用的多通道正弦信号并将其通过PCI总线发送给信号输入输出模块输出给测试对象,信号输入输出模块采集各通道对应的测试对象的频率响应信号并通过PCI总线反馈给计算机端的数据处理模块,数据处理模块计算得到频率响应信号的相频特性曲线和幅频特性曲线。本发明提供的测试装置结构简单、价格便宜、体积小易携带的特点。
申请公布号 CN104678169A 申请公布日期 2015.06.03
申请号 CN201410422585.6 申请日期 2014.08.25
申请人 北京天高智机技术开发公司 发明人 汪远银;岳良;齐飞
分类号 G01R23/16(2006.01)I 主分类号 G01R23/16(2006.01)I
代理机构 北京骥驰知识产权代理有限公司 11422 代理人 唐晓峰
主权项 一种基于PCI总线的频率特性测试装置,其特征在于,包括:PCI总线、信号生成模块、信号输入输出模块、数据处理模块;所述信号生成模块和所述数据处理模块通过所述PCI总线与所述信号输入输出模块相连;所述信号生成模块用于向用户提供人机输入界面,并根据用户输入的各通道的信号频率列表,生成相应的正弦信号,并通过所述PCI总线将各通道的正弦信号发送给所述信号输入输出模块;所述信号输入输出模块将来自所述PCI总线的各通道的正弦信号发送给各通道对应的测试对象;同时采集各通道对应的测试对象的频率响应信号,并将采集的各通道对应的测试对象的频率响应信号通过所述PCI总线发送给所述数据处理模块;所述数据处理模块根据来自所述PCI总线的各通道对应的测试对象的频率响应信号,计算各通道对应的测试对象的频率响应信号的幅值和相位值,并将其生成各通道对应的测试对象的频率响应信号的相频特性曲线和幅频特性曲线。
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